光学元件垂直度测量影响因素

光学元件垂直度误差的多源协同校正方法研究

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中国科学院取得了光学元件垂直度测量技术的创新成果，该技术的发展将有助于提升光学元件的精准度和性能，对光学行业具有重要意义。